Скачать учебное пособие Электронная микроскопия материалов В.Д. Андреева, И.И. Горшков: ELEKTRONNAYa_MIKROSKOPIYa_posobie (pdf)
Вопросы к экзамену:
ВОПРОСЫ 2016:
1. Принципы электронной оптики. Взаимодействие электрона с веществом
2. Принцип действия электро-магнитных линз
3. ПЭМ. Устройство ПЭМ (электронная пушка, линзовая система)
4. Дефекты изображения (аберрации, дисторсия, астигматизм)
5. Вакуумная система (форвакуумный и диффузионный насосы)
6. Формирование изображения в ПЭМ (контрастность, увеличение, разрешение)
7. Приготовление объектов для ПЭМ. Пластиковые реплики, методы их приготовления и оттенения. Другие виды реплик
8. Метод фольг, способы утонения фольг (механический и прямые методы, химическая и электрохимическая полировки. ионное травление)
9. Контраст на электронно-микроскопических изображениях фольги (контраст плотности, амплитудный и фазовый контраст)
10. Формирование изображения в ПЭМ. Схема работы микроскопа в режиме изображения и микродифракции
11. Элементы динамической теории дифракции. Экстинкционные контуры. Линии Кикучи
12. Электронография. Основная формула электронографии. Методы получения и типы электронограмм
13. Индицирование точечных электронограмм
14. РЭМ. Принцип работы. Взаимодействие электронного пучка с веществом. Отраженные, вторичные, поглощенные электроны
15. Формирование изображения в РЭМ. Регистрация вторичных, отраженных, поглощенных электронов (топографический и композиционный контраст)
16. Увеличение и разрешающая способность в РЭМ
17. Подготовка объектов для исследований в РЭМ. Области применения РЭМ
18. Микрорентгеноспектральный анализ. Общая характеристика
19. Рентгеновские микроанализаторы. Спектрометр волновой дисперсии. Энергетический дисперсионный спектрометр
20. Принцип фокусировки в спектрометрах волновой дисперсии (круг Роуланда)
21. Режимы работы и технические возможности рентгеноспектрального микроанализатора
22. Электронная зондовая микроскопия. Устройство и принцип работы. Сканирующие элементы зондовых микроскопов
23. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ). Физические основы туннелирования. Зонды для сканирующих туннельных микроскопов
24. Атомно-силовая микроскопия (АСМ). Зондовые датчики атомно-силовых микроскопов. Контактная и бесконтактная атомно-силовая микроскопия